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IONTOF / TOFSIMS 飞行时间二次离子质谱 / TOF-SIMS M6型
,药品和有机组织领域。全新 M6 — — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS
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Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪
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EQS二次离子质谱探针
EQS 是差式泵式二次离子质谱,可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。最新技术的SIMS 探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。
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离子淌度差分质谱技术
AB SCIEX公司2011年zei新推出了SelexIONTM 技术。该技术解决了现有同类型仪器设计的不足,保留了串联质谱所有的功能,是首个获得高重现性、耐用性及易用性的离子淌度差分质谱分离
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TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统
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SIMS二次离子质谱工作站
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TOF-qSIMS 飞行时间二次离子质谱仪TOF-SIMS
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CAMECA二次离子质谱IMS 7F-GEO
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SELECT SERIES Cyclic IMS环状离子淌度质谱IMS
SELECT SERIES Cyclic IMS将最新的环形离子淌度分离与最先进的高性能飞行时间质谱联用,助力研究人员充分发挥科学发现的巨大潜力。
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离子色谱-质谱联用仪Essentia IC-16-8050
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